《表1 溅射铁电薄膜的工艺参数》
实验以Si/SiO2为衬底,采用磁控溅射法分别制备了PZT(有氧)/ZnO,PZT(有氧),PZT(无氧),以及LiNbO3等四种铁电薄膜。薄膜的射频磁控溅射条件如表1,制备薄膜结构如图1。
图表编号 | XD00188410700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 朱彦旭、杨壮、李赉龙、杨忠、李锜轩 |
绘制单位 | 北京工业大学光电子教育部重点实验室、北京工业大学光电子教育部重点实验室、北京工业大学光电子教育部重点实验室、北京工业大学光电子教育部重点实验室、北京工业大学光电子教育部重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |