《表1 Mo S2涂层沉积参数》
实验所用的基底材料为单晶硅片和硬质合金,分别用于结构和机械性能测试。基底依次在酒精、去离子水中超声清洗并吹干,然后装夹在真空室内工件转架上。在Ar气氛、2 Pa气压,负800 V偏压下,开启离子源对基底进行等离子体刻蚀,以保证衬底表面清洁无污物;刻蚀结束后先沉积Mo过渡层,再沉积Mo Sx层,制备过程中温度控制在300℃,具体工艺参数如表1所列。为了与Mo Sx做对比,在纯Ar中制备了纯Mo薄膜。
图表编号 | XD0018396600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.04.01 |
作者 | 李助军、刘怡飞、田灿鑫、杨兵、付德君、苏峰华 |
绘制单位 | 广州铁路职业技术学院机械与电子学院、广州铁路职业技术学院机械与电子学院、广州铁路职业技术学院机械与电子学院、武汉大学加速器实验室、武汉大学加速器实验室、武汉大学加速器实验室、华南理工大学机械与汽车工程学院 |
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