《表1 基于Mo S2FET器件双向扫描转移特性曲线提取的电学参数Tab.1 Electrical parameters extracted from bidirection transfer cha

《表1 基于Mo S2FET器件双向扫描转移特性曲线提取的电学参数Tab.1 Electrical parameters extracted from bidirection transfer cha   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《使用Y函数方法提取MoS_2 FET双向扫描电学参数》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

采用相同的方法,对器件的反向扫描电学特性进行Y函数参数提取,提取结果与正向扫描电学特性不完全一致。为了综合比较该Mo S2FET正向扫描和反向扫描时,对应电学参数的差异,提取并统计了该器件的亚阈值斜率SS、跨导最大值gmax、跨导法载流子迁移率μg、Y函数法载流子迁移率μ0,以及由Y函数法推导出的源漏接触电阻Rcont、沟道电阻Rch等参数。如表1所示。