《表1 基于Mo S2FET器件双向扫描转移特性曲线提取的电学参数Tab.1 Electrical parameters extracted from bidirection transfer cha
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《使用Y函数方法提取MoS_2 FET双向扫描电学参数》
采用相同的方法,对器件的反向扫描电学特性进行Y函数参数提取,提取结果与正向扫描电学特性不完全一致。为了综合比较该Mo S2FET正向扫描和反向扫描时,对应电学参数的差异,提取并统计了该器件的亚阈值斜率SS、跨导最大值gmax、跨导法载流子迁移率μg、Y函数法载流子迁移率μ0,以及由Y函数法推导出的源漏接触电阻Rcont、沟道电阻Rch等参数。如表1所示。
图表编号 | XD00188418700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.02.03 |
作者 | 赵宇航、卢意飞、刘强 |
绘制单位 | 上海集成电路研发中心有限公司、上海集成电路研发中心有限公司、中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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