《表1 常温电参数测试数据Tab.1 Test data of the electrical parameter at normal temperature》

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《一种集成稳压器的失效机理分析》

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注:*为不合格数据。

用STS2108C电压调整器测试系统对该样品进行常温电参数测试，测试数据见表1，其中Vo为输出电压，Sv为电压调整率，Si为电流调整率，Iq为静态电流，Iq（v）为静态电流随电压变化，Iq（i）为静态电流随电流变化，Srip为纹波抑制比。测试结果显示该样品电参数不合格，稳压器无输出，表明已经发生功能性失效。采用半导体测试仪B1500A设备对稳压器进行管脚间电特性测量，结果显示失效样品输出端与公共端之间（Vout-Vgnd）的I-V特性与合格产品不同。良品在1 V的电压扫描范围内近似为阻性（图1），而失效品在小于0.5 V时呈阻性，在大于0.5 V时呈近似二极管特性，如图2所示，Io为输出电流。