《表1 不同气氛下退火的p-Ga N样品的电学性质Tab.1 Electrical properties of p-Ga N samples under different annealing amb
首先研究不同退火气氛对上述样品电学性质的影响。各个样品的电阻率、空穴浓度和迁移率如表1所示。未退火的样品高阻,无法测试出其电学性质,说明未经退火处理,Ga N中的Mg没有激活。经过退火处理后,在N2和O2中处理的样品电学性质接近,空穴浓度分别为4.56×1017和5.50×1017cm-3,电阻率分别为3.52和2.73Ω·cm。说明在N2和O2中退火都可一定程度地激活Mg,获得p-Ga N材料。在空气中退火的样品,其空穴浓度达到1.27×1018cm-3,电阻率低至0.82Ω·cm,说明空气气氛中退火可以激活更多的Mg,获得导电性更高的p-Ga N材料。
图表编号 | XD00188433000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.07.03 |
作者 | 郭艳敏、房玉龙、尹甲运、刘沛、张志荣、王波、高楠、冯志红 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第十三研究所、专用集成电路重点实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所、专用集成电路重点实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所、专用集成电路重点实验室、中国航天标准化与产品保证研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、专用集成电路重点实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所、专用集成电路重点实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所、专用集成电路重点实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所、专用集成电路重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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