《表4 各样品经过表面处理后的电性能及可靠性结果Tab.4 The electrical properties and reliability of each sample after surface
图3(a)中树脂层未经过表面技术处理直接镀镍镀锡,由于电镀液的渗入,芯片受热冲击时渗入的电镀液膨胀导致外面的镍锡层爆裂,而图3(b)中样品的树脂层经过表面技术处理后再镀镍镀锡,可以保持良好的焊接性能。因此,固化后的芯片在镀镍镀锡前必须经过一系列的表面处理。笔者针对经过250℃固化30 min后的样品设计了不同的表面处理方案,分别选择抽真空和填充两种表面处理方法进行交叉实验,并对不同表面处理方案的样品采用HP4278A电桥进行电性能测量,同时对不同样品的抗弯曲能力以及抗热冲击能力进行检验,表面处理方案及实验结果如表4所示。
图表编号 | XD0016811800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.01.05 |
作者 | 曾雨、陈长云、伍尚颖、王海洋 |
绘制单位 | 广东风华高新科技股份有限公司新型电子元器件关键材料与工艺国家重点实验室、广东风华高新科技股份有限公司新型电子元器件关键材料与工艺国家重点实验室、广东风华高新科技股份有限公司新型电子元器件关键材料与工艺国家重点实验室、广东风华高新科技股份有限公司新型电子元器件关键材料与工艺国家重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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