《表2 不同退火温度下AZO纳米叠层薄膜方块电阻值Tab.2 Block sheet resistance values of the AZO nanolaminate films at differ
实验结果表明,电阻率随着退火温度、退火时间的升高均有所增加,退火处理不仅可以改变ALD-AZO膜的晶体结构,而且还影响其电学性能[16]。在测试薄膜方块电阻的过程中发现,AZO纳米叠层薄膜的方块电阻会随着测试电压的升高而降低,即薄膜的阻值不稳定。但在退火条件为400℃,6 h时,薄膜电阻基本稳定,已无明显波动。结合上述分析,过高的退火温度不利于薄膜的结晶性能和电学稳定性,在本文条件下,最好的热处理工艺为400℃,6 h。在此条件下退火处理的AZO纳米叠层薄膜是未来MCP打拿极导电层材料的优良选择。
图表编号 | XD00188420000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.02.03 |
作者 | 关钧、拜晓峰、端木庆铎 |
绘制单位 | 长春理工大学理学院、微光夜视技术重点实验室、长春理工大学理学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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