《表1 TiBN薄膜方阻、电阻率数值及其和各种材料对比Tab.1 Sheet resistance and electrical resistivity of TiBN films on variou
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《渗硼镀膜法制备TiBN薄膜的电子导电性及其潜在应用前景》
获得镀膜试样以后,用丙酮和酒精对试样表面进行清洗,避免表面附着物影响测试结果。采用四端子法测试薄膜方阻(具体测试数据见表1和表3),测量精度为0.5×10-6Ω,然后通过计算得出薄膜的电阻率,文中所给数据是三次测量的平均值。薄膜的电阻率在苏州晶格电子有限公司测量。使用的测试仪器是ST2258C电阻测试仪,探头型号为ST2558B-F01,针距2+2+2,探针为镀金磷铜半球形针尖。
图表编号 | XD0016828100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.11.05 |
作者 | 胡建东、S.TOSTO、程春明、王红海 |
绘制单位 | 吉林大学材料科学与工程学院、欧洲核能开发署先进物理技术和新材料研究部、江西嘉陶无机材料有限公司、苏州均海镀膜科技有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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