《表2 不同真空干燥温度下石墨烯薄膜的方块电阻及厚度测量》
为了进一步探讨真空干燥更为适宜的温度,本文将石墨烯溶液放置在真空干燥箱中,在三种不同温度下分别恒温干燥,观察石墨烯薄膜成膜情况。如图8~图10所示,随着真空干燥箱温度升高,石墨烯薄膜片径尺寸增大,薄膜分布更加均匀。进一步采用四点探针测试仪测量石墨烯薄膜方块电阻,并用台阶仪/表面轮廓仪测量薄膜厚度,得到测量结果如表2所示,随着温度升高,石墨烯薄膜的电阻率逐渐降低。
图表编号 | XD0028232500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.03.15 |
作者 | 周勇 |
绘制单位 | 上海交通大学电子信息与电气工程学院、上海交通大学薄膜与微细技术教育部重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |