《表1 三种干燥方式下石墨烯薄膜的方块电阻及厚度测量》

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《基于石墨烯复合薄膜的平面微电感》

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此外，用四点探针测试仪对石墨烯薄膜的方块电阻进行测量，并用台阶仪/表面轮廓仪测量薄膜厚度，得到测量结果如表1所示（实验时的室温为28℃）。由表1可得，室温自然干燥方式下得到的石墨烯薄膜厚度远大于其他两种干燥方式薄膜厚度，说明室温自然干燥下成膜疏松。部分原因是自然干燥时，薄膜内部空洞缺陷较多。但是，三者薄膜方块电阻大小接近。