《表6 薄膜方块电阻、发射率随溅射时间的变化》
随溅射时间的延长,沉积到基材上的ITO原子越来越多,薄膜会越来越厚,如图7所示。同时,随溅射时间增加,ITO薄膜的组织结构更加完整、密集,表面连续性较好,载流子浓度和迁移率也随之增高,方块电阻迅速下降[21],如表6所示。
图表编号 | XD00145578800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.07.20 |
作者 | 李晓晖、宋凯强、丛大龙、张敏、孙彩云、吴护林、李忠盛 |
绘制单位 | 西南技术工程研究所、西南技术工程研究所、西南技术工程研究所、西南技术工程研究所、西南技术工程研究所、西南技术工程研究所、西南技术工程研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |