《表1 晶圆扫正功能对比》
我们选用了一些不同规格尺寸的晶圆片,使用基于灰度匹配的图像对准方法以及基于几何匹配的图像对准方法对其进行图像对准(先将待测片进行扫正,再自动寻找一次首测点),记录两种方法所耗费的时间以及图像对准中出错的次数。其晶圆扫正功能所得数据参考表1,自动寻找首测点功能相关数据参考表2。
图表编号 | XD0014942000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.12.20 |
作者 | 左宁、胡晓霞 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |