《表1 单片晶圆脉冲检测理论数据表》
在检测过程中,根据电机运行速度,片盒内槽间距以及晶圆的厚度,从最下面的一片开始检测,脉冲数从检测到第一片开始计算,我们得出25片晶圆(半导体标准片盒为25片)的检测理论数据如表1所示。
图表编号 | XD0014935500 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.04.20 |
作者 | 李燕玲、刘洋 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
在检测过程中,根据电机运行速度,片盒内槽间距以及晶圆的厚度,从最下面的一片开始检测,脉冲数从检测到第一片开始计算,我们得出25片晶圆(半导体标准片盒为25片)的检测理论数据如表1所示。
图表编号 | XD0014935500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.04.20 |
作者 | 李燕玲、刘洋 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |