《表3 氧气流量对ITO薄膜光电性能的影响》

《表3 氧气流量对ITO薄膜光电性能的影响》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
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《磁控溅射法制备柔性大尺寸ITO薄膜的研究》


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设定实验过程中氩气流量255 sccm,溅射功率3.6 k W,沉积温度为室温,PET走速为1.2 m/min,氧气流量从6.30 sccm变化到14.85 sccm,所得结果见表3和图4,随着氧气流量的增加,在可见光波长范围内,薄膜的透过率增大。薄膜方阻随着氧气流量的增加先降后增,在较低的氧气流量下,薄膜中存在较多的氧空位。虽然氧空位能增加薄膜的导电性,但它也会使薄膜缺陷增加,从而增大电子的散射,薄膜的导电性会降低[12]。当氧气流量继续增大时,薄膜中氧空位大大减少,从而降低了薄膜导电性,使其方阻增大。因此,适量的氧空位是获得低方阻ITO薄膜的关键因素。在氧气流量为10.35 sccm时,薄膜方阻达最小值(175.57Ω/□),平均透过率为84.80%,方阻均一性为8.69%(小于10%)。随着氧气流量的增加,薄膜偏黄值呈先降低后增加的趋势。当氧气流量为10.35 sccm时,所制备的ITO薄膜方阻接近180Ω/□且平均透过率达到最高为84.80%。