《表4 芯片保存期测试结果》
根据加速老化试验原理[23],在55℃的环境中保存7d即相当于在室温(20℃)的条件下保存1年。以优化后的各指标制备的芯片,在55℃的环境中分别保存1、2、3、7d,观察芯片的状态、显色时间、显色梯度最低检测限等结果见表4。
图表编号 | XD00128458900 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.02.01 |
作者 | 张修珂、李梦瑶、李聪、王英美、王亮 |
绘制单位 | 新疆大学生命科学与技术学院、新疆大学生命科学与技术学院、武汉大学物理科学与技术学院、新疆大学生命科学与技术学院、新疆大学生命科学与技术学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |