《表2 3G基带芯片DAC动态特性测试结果》
从图8中可以看到,在应用新方法后,原先因非相干采样导致的频谱泄漏被消除了,原有的杂信尖峰也被完美重构。通过新方法得到的SNR与THD的误差范围小于1%(表2)。
图表编号 | XD00162180700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.25 |
作者 | 陆明 |
绘制单位 | 光梓信息科技(上海)有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
从图8中可以看到,在应用新方法后,原先因非相干采样导致的频谱泄漏被消除了,原有的杂信尖峰也被完美重构。通过新方法得到的SNR与THD的误差范围小于1%(表2)。
图表编号 | XD00162180700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.25 |
作者 | 陆明 |
绘制单位 | 光梓信息科技(上海)有限公司 |
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