《表2 3G基带芯片DAC动态特性测试结果》

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《高速数模转换芯片动态特性高精度量产测试技术研究》


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从图8中可以看到,在应用新方法后,原先因非相干采样导致的频谱泄漏被消除了,原有的杂信尖峰也被完美重构。通过新方法得到的SNR与THD的误差范围小于1%(表2)。