《表5 ARCH-LM检验结果》

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ARCH-LM检验的原假设为残差系列直到p阶都无ARCH效应，可用于检验残差序列中是否有ARCH效应的拉格朗日乘数。从上面ARCH-LM的检验结果可以看出，F统计量12.66190和LM统计量12.39279的p值都小于0.01，均为0.0004，因此在1%的显著性水平下，残差序列存在ARCH效应。所以可以建立GARCH模型进行分析。