《表1 碳化硅MOSFET与传统硅MOSFET器件参数Tab.1 Parameters of SiC MOSFET and the traditional Si MOSFET devices》
为了使该系统可以达到更高的效率,首先考虑应尽可能减小开关损耗,降低开关频率。同时在本设计中,对开关器件在关断时的绝缘能力提出了更高的要求。随着半导体制造工艺的不断发展进步,宽禁带WBG(wide bandgap)功率开关器件(如GaN,SiC等)为未来替代传统硅器件提供了可能。表1为宽禁带器件碳化硅MOSFET与传统硅MOSFET器件相关参数比较。
图表编号 | XD0030598100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.01.01 |
作者 | 李翔宇、杨克虎 |
绘制单位 | 中国矿业大学(北京)机电与信息工程学院、中国矿业大学(北京)机电与信息工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |