《表4 塑封料封装试验项目》
选取击穿电压在1200 V以上的芯片进行封装试验,对高压塑封料的封装能力和封装后产品的可靠性能力进行评价,其评价项目及考核要求如表4和表5所示。客户考核封装和SAT结果如图4、5所示。
图表编号 | XD00220229100 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.10.20 |
作者 | 王殿年、段嘉伟、刘艳明、王贺贺 |
绘制单位 | 长兴电子材料有限公司、长兴电子材料有限公司、长兴电子材料有限公司、长兴电子材料有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
选取击穿电压在1200 V以上的芯片进行封装试验,对高压塑封料的封装能力和封装后产品的可靠性能力进行评价,其评价项目及考核要求如表4和表5所示。客户考核封装和SAT结果如图4、5所示。
图表编号 | XD00220229100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.10.20 |
作者 | 王殿年、段嘉伟、刘艳明、王贺贺 |
绘制单位 | 长兴电子材料有限公司、长兴电子材料有限公司、长兴电子材料有限公司、长兴电子材料有限公司 |
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