《表2 塑封器件吸湿影响带来的不合格变化试验验证(续)》
在大量的重复性试验中发现,同样的器件因超声扫描不合格、进行温循后重新扫描不合格率会有变化,同样的器件因扫描时间快慢的不同不合格率也有变化,为找出规律,我们挑选了一些影响比较大的器件进行了对比试验,结果如表2所示。
图表编号 | XD00100643500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.10.20 |
作者 | 马清桃、王伯淳、王瑞崧 |
绘制单位 | 中国航天科工集团第四研究院元器件可靠性分中心、中国航天科工集团第四研究院元器件可靠性分中心、中国航天科工集团第四研究院元器件可靠性分中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |