《表3 高管学术经历与企业研发操纵》
注:括号内为T统计量,***、**、*分别代表1%、5%和10%水平上显著,以下同。
利用模型(5)进行回归,结果如表3所示。第(1)列结果显示,高管学术经历与企业研发操纵水平的相关系数为-0.087且在1%水平上显著,表明高管学术经历能够有效抑制企业研发操纵活动,假设1得到验证;第(2)至(3)列结果显示,在税收征管力度较弱的地区(TE=0),有学术经历的高管与企业研发操纵活动在5%水平上显著为负,而在税收征管力度较强的地区(TE=1),二者的负向关系并不显著;第(4)至(5)列结果显示,有学术经历的高管对研发操纵的抑制作用在企业内部控制质量较差时(ICQ=0)更为显著。由此可见,当企业所处内外部环境监管水平较为薄弱时,学术经历高管对研发操纵的治理效果更为凸显,假设2、3得到验证,即在“试金石”的考验下,具有学术经历的高管仍能坚守“本心”并发挥治理作用。
图表编号 | XD00173636300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.08.20 |
作者 | 苑泽明、王培林、富钰媛 |
绘制单位 | 天津财经大学会计学院、天津财经大学会计学院、天津财经大学会计学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |