《表1 不同退火温度下Cu薄膜的方均根粗糙度》
用原子力显微镜获得纳米Cu薄膜的表面形貌信息,通过Nano Scope Analysis软件进行数据处理与分析,得到不同退火温度下Cu薄膜表面的方均根粗糙度Rrms,结果见表1。
图表编号 | XD0010188600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.08.15 |
作者 | 张明朝、汪林文、李玲、陈艳、张祥、蔡金阳、陈卫东、李玲 |
绘制单位 | 四川师范大学物理与电子工程学院、四川师范大学物理与电子工程学院、四川师范大学物理与电子工程学院、四川师范大学物理与电子工程学院、四川师范大学物理与电子工程学院、四川师范大学物理与电子工程学院、四川师范大学物理与电子工程学院、四川师范大学物理与电子工程学院 |
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