《超大规模集成电路设计 2 逻辑与测试》求取 ⇩

目录1

第一章 布尔代数1

1.1 数的表示1

1.2 布尔代数和开关理论9

1.3 逻辑函数和标准式13

1.4 逻辑函数的简化17

第二章 逻辑设计基础35

2.1 组合电路的设计35

2.2 时序电路的设计57

2.3 面向VLSI的系统设计74

第三章 描述语言92

3.1 描述语言的作用和历史92

3.2 结构描述语言100

3.3 功能描述语言129

3.4 图形描述语言154

3.5 描述语言和语言处理系统169

第四章 逻辑模拟175

4.1 逻辑模拟基础175

4.2 门级模拟181

4.3 逻辑模拟的通用化193

第五章 故障测试序列的生成202

5.1 故障模型和测试202

5.2 算法208

5.3 故障模拟220

5.4 存贮器的测试系列232

第六章 易测性设计241

6.1 易测试方法241

6.2 易测性PLA247

6.3 时序电路的易测性设计254

6.4 内部测试法267

参考文献276

索引279