《逻辑电路测试》求取 ⇩

第一章逻辑电路测试的一般概念1

第一节 逻辑电路及其测试1

第二节 故障7

第三节 穷举测试法8

第四节 故障模型26

参考文献38

习题39

第二章组合电路的测试产生41

第一节 布尔差分法41

第二节 D算法50

第三节 分支判决法68

第四节 随机测试产生76

第五节 多故障诊断80

参考文献93

习题95

第三章测试的响应分析97

第一节 故障模拟和响应存贮法97

第二节 比较法101

第三节 响应的压缩104

第四节 特征分析器112

参考文献133

习题134

第四章时序电路的测试135

第一节 检查实验135

第二节 时序电路的迭代阵列模型145

第三节 时滞测试148

第四节 随机访问存贮器（RAM）的测试156

参考文献160

习题160

第五章 可测试性设计162

第一节可测试性的测度162

第二节 可测试性设计的特定方法174

第三节 级敏扫描设计（LSSD）178

第四节 其他可测试性设计189

第五节 内测试202

第六节 自治测试208

参考文献220

习题221

第六章微处理器的测试225

第一节 微处理器的测试及可测试性设计225

第二节 包含微处理器的数字系统的功能故障模型233

第三节 给定功能故障的测试产生245

第四节 微处理器的测试生成程序255

参考文献271

第七章可编程序逻辑陈列的测试272

第一节 PLA的结构272

第二节 PLA故障模型274

第三节 PLA的可测试性设计301

参考文献322

附录323