《大规模集成电路测试》求取 ⇩
| 作者 | 陈兆龙编 编者 |
|---|---|
| 出版 | 清华大学微电子研究所 |
| 参考页数 | 143 ✅ 真实服务 非骗流量 ❤️ |
| 出版时间 | 没有确切时间的资料 目录预览 |
| ISBN号 | 无 — 违规投诉 / 求助条款 |
| PDF编号 | 815781968（学习资料 勿作它用） |
| 求助格式 | 扫描PDF（若分多册发行，每次仅能受理1册） |
第一章绪论1
1.1 LSI的发展1
1.2 对测试的要求2
1.3 测试的目的6
1.4 电学性能测试8
第二章半导体随机存贮器的测试11
2.1 RAM的简介11
2.2 存贮器的主要故障16
2.3 测试图案20
2.4 再生间隔时间的测试39
第三章微处理器的测试45
3.1 微处理器简介45
3.2 基本测试方法63
3.3 LEAD方法及VALLD策略67
第四章测试数据的简化与分析79
4.1 测试数据简化的必要性79
4.2 测试数据的简化方法79
4.3 测试数据的统计分析87
4.4 关于数据分析软件95
第五章LSI测试仪98
5.1 测试仪的主要组成部分98
5.2 算法图案产生器103
5.3 存贮式图案产生器114
5.4 定时信号产生器121
5.5 波形模式控制器125
5.6 管脚驱动器128
5.7 定时校正电路131
5.8 失效分析存贮器134
5.9 直流测量单元138
5.10 时间测量单元139
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