《表1 Na-Mg共掺ZnO薄膜的晶格参数》
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《溶胶凝胶工艺制备NaMgZnO复合薄膜结构和发光性能研究》
图1是本征ZnO薄膜、Mg0.2Zn0.8O薄膜和NaxMg0.2Zn0.8-xO (x=0.02、0.04、0.06)薄膜的X射线衍射图谱,薄膜的旋涂次数是5次,预处理温度是190℃,退火温度为500℃.与本征ZnO的XRD标准卡对比后可知在Mg单掺ZnO薄膜和Na-Mg共掺ZnO薄膜中,杂质离子的掺入并未改变薄膜的结构,其与本征ZnO薄膜的结构基本一致.根据XRD图谱的测试结果可以得出薄膜的晶格参数,如表1所示.
图表编号 | XD0091688000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.20 |
作者 | 王艳、臧谷丹、崔潇文、王玉新、刘子伟 |
绘制单位 | 辽宁师范大学物理与电子技术学院、辽宁师范大学物理与电子技术学院、辽宁师范大学物理与电子技术学院、辽宁师范大学物理与电子技术学院、辽宁师范大学物理与电子技术学院 |
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