《表1 沉积工艺参数对光学薄膜材料的影响(k<10-4)[16]》
为满足薄膜的光学应用特性,必须要获得薄膜光学常数稳定、制造精确度高的PECVD制备工艺。国内外学者对此进行了大量的研究,目前仍在不断探索中。按薄膜材料的折射率可将薄膜大致分为三类,第一类是折射率n≤1.46的掺F氧化物薄膜,即低折射率薄膜,典型代表为SiOxFy;第二类是1.46
图表编号 | XD00222343600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.07.10 |
作者 | 杭良毅、刘卫国、杭凌侠、周顺 |
绘制单位 | 西安工业大学陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室、西安工业大学陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室、西安工业大学陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室、西安工业大学陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室 |
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