《表2 线性轮廓轨迹不同控制方法的均方根误差》
图11是双迭代学习-交叉耦合(ILC&CCILC)算法的轨迹误差收敛图,表示的是轮廓误差绝对值的平均值与迭代次数的关系。由图11可知,使用双迭代学习-交叉耦合(ILC&CCILC)控制方法对线性轮廓轨迹具有很好的稳定性和收敛性。表2统计了上述实验中3种不同控制方法的均方根误差。
图表编号 | XD00197309600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 王聪、赵大兴、袁聪、肖迪 |
绘制单位 | 湖北工业大学机械工程学院、湖北工业大学机械工程学院、湖北工业大学机械工程学院、湖北工业大学机械工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |