《表3 RIE刻蚀Nb条件Tab.3 Parameters of the Nb etching by RIE》

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《超导太赫兹直接检测器的制备技术研究》


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第二步,对数天线和测试引线制备。光刻形成光刻胶掩膜,RIE刻蚀上下层Nb膜,具体条件如表3所示;离子铣(IE)刻蚀Al-Al Ox层,具体条件如表4所示。