《表4 RIE刻蚀Al-Al Ox条件Tab.4 Parameters of the Al-Al Oxetching by RIE》
第二步,对数天线和测试引线制备。光刻形成光刻胶掩膜,RIE刻蚀上下层Nb膜,具体条件如表3所示;离子铣(IE)刻蚀Al-Al Ox层,具体条件如表4所示。
图表编号 | XD0016300800 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.10.24 |
作者 | 王海萍、曹春海、刘奥谱、徐祖雨、孙国柱、陈健、许伟伟、吴培亨 |
绘制单位 | 南京大学超导电子研究所、南京大学超导电子研究所、南京大学超导电子研究所、南京大学超导电子研究所、南京大学超导电子研究所、南京大学超导电子研究所、南京大学超导电子研究所、南京大学超导电子研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
查看“表4 RIE刻蚀Al-Al Ox条件Tab.4 Parameters of the Al-Al Oxetching by RIE”的人还看了
- 表4 原始R、G通道信号统计波峰法相关性分析结果Tab.4 Correlation analysis of R and G channel signals obtained by wave peak detection