《表3 研发投入和股价崩盘风险:基本检验》
提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《公司研发投入与股价崩盘风险——来自A股上市公司的经验证据》
回归结果见表3,第(1)列和第(2)列以NC-SKEWi,t+1为因变量,第(1)列只加入了自变量RDSi,t进行回归,其系数为1.280,在1%水平上显著,这说明研发投入强度越高,公司未来的股价崩盘风险越高。第(2)列加入了控制变量,RDSi,t的系数降至0.851,仍在1%水平上显著。第(3)列和第(4)列以DUVOLi,t+1为因变量,结论与前面一致。
图表编号 | XD00162568700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.07.15 |
作者 | 周璐、张晓美 |
绘制单位 | 天津财经大学经济学院、天津大学仁爱学院、贵州大学管理学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |