《表2 不同Ag含量沉积SnSe薄膜试样衍射峰峰的半高宽、衍射角及晶粒尺寸》
根据Scherrer方程D=Kλ/βcosθ,测量Ag3Sn相衍射峰的半高宽β,取波长λ为0.15406 nm,K=0.89,计算衍射角2θ在37.7°附近不同Ag含量SnSe薄膜中Ag3Sn相的平均晶粒尺寸,结果列于表2。在本文制备的不同Ag含量SnSe薄膜中,Ag3Sn相的平均晶粒尺寸近似相同,为11~15 nm。这表明,掺杂Ag后薄膜中形成纳米尺寸的Ag3Sn相,对其电阻率和Seebeck系数有很大的影响。
图表编号 | XD00145362900 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.08.25 |
作者 | 李贵鹏、宋贵宏、胡方、杜昊、尹荔松 |
绘制单位 | 沈阳工业大学材料科学与工程学院、沈阳工业大学材料科学与工程学院、沈阳工业大学材料科学与工程学院、中国科学院金属研究所材料表面工程研究部、五邑大学智能制造学部 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |