《表1 不同Ag掺杂量SnSe薄膜的成分》
根据能谱测定结果,掺杂不同Ag粒的SnSe薄膜成分列于表1。掺杂Ag的薄膜中含Ag、Sn和Se元素。在理论上,未掺杂Ag的SnSe薄膜其Sn与Se的比例应为1,但成分分析结果表明其比例为1.297,与理论值不符。其原因是,溅射沉积薄膜属于非平衡生长过程且Se元素极易挥发。随着Ag掺杂量的增加Ag与(Sn+Se)含量的比例由0.035提高到0.184,Sn与Se的比例由1.297提高到1.425。根据XRD谱确定了掺杂的Ag与Sn结合形成新的化合物,没有形成置换式化合物固溶体。
图表编号 | XD00145362600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.08.25 |
作者 | 李贵鹏、宋贵宏、胡方、杜昊、尹荔松 |
绘制单位 | 沈阳工业大学材料科学与工程学院、沈阳工业大学材料科学与工程学院、沈阳工业大学材料科学与工程学院、中国科学院金属研究所材料表面工程研究部、五邑大学智能制造学部 |
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