《表2 不同钴掺杂量薄膜样品的成分和结构参数》

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《钴掺杂TiO_2纳米管阵列薄膜的制备及其光催化还原性能》

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图3给出了不同钴掺杂量薄膜的拉曼光谱图，其中图3a是各薄膜样品在100～800 cm-1范围的拉曼吸收光谱图，图3b给出不同掺杂浓度样品在100～200 cm-1范围的拉曼吸收光谱图。可以看出，各样品的拉曼吸收峰分别与标准矿TiO2拉曼活性模Eg（144 cm-1、198 cm-1、640 cm-1）、B1g（398 cm-1、519 cm-1）[25]相对应，未出现金红石相二氧化钛的拉曼吸收峰。如图3a所示，钴掺杂样品均为锐钛矿型二氧化钛，与XRD的结果一致。而对于未掺杂二氧化钛纳米管阵列，钴掺杂样品的Eg活性模的特征峰发生不同程度的红移和宽化（图3b），是钴掺杂导致的由氧空位和晶粒尺寸变化引起的声子限域效应[26，27]。