《表1 均方根误差(REMS)比较》
一般的拟合方法如最小二乘拟合和高斯函数拟合用于测试数据,尽管有很好的拟合效果,但其拟合误差均大于高斯过程。且高斯过程预测结果不仅提供了预测均值,同时还包含其置信区间,能更好的为决策者提供更多的参考信息,增强预测结果的有效性。抽取锂电池充放电数据,利用8次多项式拟合及7阶高斯拟合的方法分别进行了恒流充电(CCC)、恒压充电(CVC)以及恒流放电(CCD)三种充放曲线的拟合,得到拟合曲线,利用均方根误差(REMS)进行实验结果的比较,分析得出高斯过程的拟合预测更有利于锂电池数据的处理(见表1)。
图表编号 | XD0090003700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.08.18 |
作者 | 周頔、卢文斌、付平 |
绘制单位 | 哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所、深圳市计量质量检测研究院、深圳市计量质量检测研究院、哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |