《表1 孔径与聚焦深度变化模拟参数表》

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《基于超声环阵相控阵的变孔径聚焦检测技术》

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设计了3组不同的试验:第1组是采用相同的孔径聚焦到不同的深度；第2组是在变化聚焦深度时，通过控制激励的晶片数改变孔径，在这一过程中保持焦距和孔径之比不变；第3组是在变化聚焦深度时，改变孔径保持焦距和近场长度之比不变。3组试验模拟的参数见表1。