《表2 最小厚度的亚像素坐标》
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《基于改进的Sobel-Zernike矩法亚像素厚度测量》
绝缘材料6个需要测量的最小厚度所在位置如图11所示，亚像素坐标和厚度如表2所示。
| 图表编号 | XD0055156800 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.05.25 |
| 作者 | 杨前华、姚励、赵力 |
| 绘制单位 | 南京信息职业技术学院通信学院、东南大学信息科学与工程学院、东南大学信息科学与工程学院、东南大学信息科学与工程学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
