《表1 最小厚度/最大厚度的亚像素坐标》
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《基于改进的Sobel-Zernike矩法亚像素厚度测量》
通过改进的Sobel-Zernike矩法进行亚像素定位后，根据国家标准图（图1）要求，需测量3个最大厚度和3个最小厚度[7]，如图10所示，亚像素坐标和厚度如表1所示。
| 图表编号 | XD0055157400 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.05.25 |
| 作者 | 杨前华、姚励、赵力 |
| 绘制单位 | 南京信息职业技术学院通信学院、东南大学信息科学与工程学院、东南大学信息科学与工程学院、东南大学信息科学与工程学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
