《表2 磁流变抛光工艺参数Tab.2 Process parameters of the magnetorheological polishing》
In P晶片为广东天鼎思科新材料有限公司生产,形状为10 mm×10 mm正方形。为进行抛光实验,预先通过研磨工艺使InP表面粗糙度达到约33 nm,表面形貌如图2所示。磁流变抛光液由去离子水、分散剂、铁粉及磨料组成,抛光实验时磁流变液组分如表1所示,表中wa为磨料的质量分数,d为磨料粒径。抛光实验工艺条件如表2所示。利用Mitutoyo(日本三丰)千分表测量抛光前后InP晶片的厚度,通过厚度差计算材料去除速率,使用Contour GT-X3白光干涉仪测量和观察加工前后晶片表面粗糙度及表面形貌。
图表编号 | XD0028229000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.01.03 |
作者 | 路家斌、孙世孔、阎秋生、廖博涛 |
绘制单位 | 广东工业大学机电工程学院、广东工业大学机电工程学院、广东工业大学机电工程学院、广东工业大学机电工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |