《表1 MEMS平面开关参数对比》

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《基于MEMS工艺的安全起爆芯片》


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通过奥林巴斯激光共聚焦显微镜5100、安捷伦5500原理力显微镜、DEKTAK150台阶仪,对微起爆器件关键原件MEMS平面开关进行分析,形貌、粗糙度、厚度性能测试结果分别如图3~5所示,设计参数与测试结果对比如表1所示。