《表1 典型汽车电子芯片认证编号测试次数》

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《基于二维码的半导体芯片测试信息自动化识别及追溯系统的设计与应用》

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从图1高温操作生命周期实验（HTOL）流程中可知，芯片在整个试验周期中会经历高达21次的自动化测试机反复测试，每次测试前都可能会要求操作人员对待测芯片进行手动编号。对于平均情况，在一个认证周期内需要进行的编号测试次数如表1所示。其总计为306次人工手动待测物料排序。