《表1 半导体元器件常见失效类型的活化能》
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实践表明绝大多数电子元器件的失效符合Ar rhenius模型，表1给出了半导体元器件常见的失效反应的活化能。
| 图表编号 | XD0066407700 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.02.20 |
| 作者 | 衣磊、何文豪、王玉金 |
| 绘制单位 | 徐州赫思曼电子有限公司 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
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