《表1 不同厚度PI/Si薄膜的反演结果》
提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《利用单波长椭偏仪对各向异性薄膜光学常数和欧拉角的研究》
为了考察模拟退火单纯形联合算法反演的可行性及可靠性,对二种光轴平行于表面各向异性薄膜进行数字模拟反演实验.数字模拟中使用的入射光的波长为632.8 nm,入射角为70°,环境介质为空气(ni=1),衬底为硅衬底(nt=3.85-0.02i).选取各向异性二氧化硅薄膜(SiO2)(no=1.38,ne=1.50) 以及聚酰亚胺薄膜(PI)(no=1.557 3,ne=1.540 1) 作为模拟反演对象,加入普通椭偏仪测量精度0.02°的随机误差模拟实验得到的椭偏参数,反演算法搜索范围分别为1
图表编号 | XD0065525200 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.08.25 |
作者 | 冀丽娜、邓剑勋、汪娟、黄佐华 |
绘制单位 | 华南师范大学物理与电信工程学院、华南师范大学物理与电信工程学院、华南师范大学物理与电信工程学院、华南师范大学物理与电信工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |