《表1 通过不同的溅射时间制备的样品a (Ce:Zr摩尔比9:1) 的XPS结果》

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《非化学计量比Ce_xZr_yO_2纳米复合材料的可控合成及其光催化性能研究》

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通过图4的XPS分析可以对材料的结构有更深入的了解，如图4a所示，Zr（3d）电子可以在181.5eV处被识别，Ce（3d）电子可以在883.0eV和182.6eV处被识别.为了便于分析，通过30、60、180s的不同溅射时间对Ce0.9Zr0.1O2样品的XPS进行深度分析，结果显示Ce:Zr比率随溅射时间不同而有显著的无规律变化（表1），这表明样品中锆元素的分布不均匀.从Ce（图4 （b）） 和Zr（图4 （c）） 的XPS光谱可以进一步证实，Ce3d和Zr3d的峰显示Ce和Zr是以Ce3+和Zr4+的形式存在[23]，由此可以推断，较小的Zr4+在水热过程中迁移到符合材料内部，而较大的Ce3+保留在CexZryO2纳米复合材料的表面上.