《表1 AZ4620光刻胶刻蚀参数》
式中:Ef为被刻蚀材料的刻蚀速率;Er为掩模材料的刻蚀速率[11]。根据以上要求,本方案选择AZ4620正性光刻胶作为刻蚀掩模。经过实验得到AZ4620光刻胶刻蚀数据如表1所示,晶圆中心区域选择比为35∶1,可以满足深孔刻蚀的需要。
图表编号 | XD0051421700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.07.15 |
作者 | 杨海博、戴风伟、王启东、曹立强 |
绘制单位 | 中国科学院微电子研究所、中国科学院大学、中国科学院微电子研究所、华进半导体封装先导技术研发中心有限公司、中国科学院微电子研究所、华进半导体封装先导技术研发中心有限公司、中国科学院微电子研究所、华进半导体封装先导技术研发中心有限公司、中国科学院大学 |
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