《表2 不同基片的光刻胶厚度及均匀性》
表2为使用正性光刻胶,调节旋涂工艺参数得到的不同100 mm基片旋涂厚度均匀性典型统计结果,通过公式(3)计算可得,基片1、2、3片内均匀性为0.214%、0.217%、0.255%,片间均匀性为0.804%,满足用户的生产要求。
图表编号 | XD0055732500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.20 |
作者 | 艾博、周占福、吕磊 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |