《表1 单、双测头测量实验结果》
μm
在相同的实验环境下,分别通过单测头与双测头测量方式对同一片?14 mm压电陶瓷片在100 V静态电压下进行了测量,测量结果如表1所示,结果证实了单测头测量时压电陶瓷片的位移偏小。
图表编号 | XD00222891000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.09.20 |
作者 | 李欣、王晓东、罗怡、任同群 |
绘制单位 | 大连理工大学辽宁省微纳米技术及系统重点实验室、大连理工大学辽宁省微纳米技术及系统重点实验室、大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室、大连理工大学辽宁省微纳米技术及系统重点实验室、大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室、大连理工大学辽宁省微纳米技术及系统重点实验室、大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室 |
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