《表2 反复充放电测量实验结果》
μm
取5片压电陶瓷片,分别加载100 V电压持续2 s,然后加载0 V电压持续2 s,重复16次,每次均记录其位移量。其中,驱动电源采用专用的压电控制器,100 V内的最大误差小于30 m V,实验温度为20.5℃,湿度为18%,实验结果如表2所示。结果表明,压电陶瓷片充、放电0次时,测量结果偏差较大;充、放电1~15次时,5片的测量结果与平均值的最大差值分别是0.07μm、0.06μm、0.07μm、0.05μm和0.06μm。这表明充、放电次数对静态电压下压电陶瓷片位移的影响不大。随着加压次数的增多,陶瓷片的位移量也没有明显的变化。因此,为保证测量效率和准确性,在测量前采用与测量时相等的电压进行3次充、放电处理。
图表编号 | XD00222891100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.09.20 |
作者 | 李欣、王晓东、罗怡、任同群 |
绘制单位 | 大连理工大学辽宁省微纳米技术及系统重点实验室、大连理工大学辽宁省微纳米技术及系统重点实验室、大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室、大连理工大学辽宁省微纳米技术及系统重点实验室、大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室、大连理工大学辽宁省微纳米技术及系统重点实验室、大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室 |
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