《表8 STO{001}晶面间距测量值》
两个人分别独立测量样品6次。测量条件为:采用已溯源Cu靶X射线源(λ=0.1540598nm),在22°~24°范围之间扫描2θ角,扫描速度为0.005°/s。STO{001}晶面间距标准物质候选物的XRD谱图如图10所示。通过标准曲线公式(3)对测得的STO{001}晶面2θ角进行修正。10次测量结果平均值为22.768°,则修正值为22.787°,d001修正为0.38993nm,STO{001}晶面间距即单原子台阶高度,以此作为标准物质的量值。标准偏差作为测量重复性引入的标准偏差,结果见表8。
图表编号 | XD00201116400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.01.18 |
作者 | 张小敏、高慧芳、周志峰、董国材、卜天佳、任玲玲 |
绘制单位 | 江南石墨烯研究院、中国计量科学研究院、常州检验检测标准认证研究院、国成仪器(常州)有限公司、江南石墨烯研究院、中国计量科学研究院、中国计量科学研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |