《表1 CuO-SiO2@CeO2催化剂的H2-TPR谱图拟合数据》
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《CuO-SiO_2@CeO_2核壳结构催化剂及其催化CO氧化性能》
图3是CuO-SiO2@CeO2催化剂的H2-TPR曲线。从图3可以看到,催化剂的耗氢峰可以拟合为两个峰,低温耗氢峰可归属于表面高分散CuOx簇的还原[9],而较高温度耗氢峰可归属于具有强相互作用Cu-[Ox]-Ce结构的还原[10]。表1列出了几种催化剂H2-TPR耗氢峰拟合结果,可以看到负载型的CuO-CeO2/SiO2催化剂还原峰温度明显高于CuO-SiO2@CeO2催化剂,同时其耗氢量低于CuO-SiO2@CeO2催化剂,说明负载型催化剂中铜物种与CeO2有强相互作用或者发生团聚,导致难以被还原。不同负载量的CuO-SiO2@CeO2催化剂中,1%负载量的低温还原峰比例较高,这将导致有更多的Cu+生成。
图表编号 | XD00183523300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 徐洁书、陶艳琪、吴炳智、王琪 |
绘制单位 | 铜陵有色金属集团股份有限公司铜冠冶化分公司、合肥工业大学化学与化工学院、铜陵有色金属集团股份有限公司铜冠冶化分公司、合肥工业大学化学与化工学院 |
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